Array ( [0] => Array ( [title] => L31A [link] => https://www.youtube.com/embed/Z1s4KdLPqag ) [1] => Array ( [title] => L31B [link] => https://www.youtube.com/embed/22fsXMud-O0 ) [2] => Array ( [title] => L31C [link] => https://www.youtube.com/embed/CoinVw8a9jI ) [3] => Array ( [title] => L31D [link] => https://www.youtube.com/embed/6BRi4e99iu4 ) ) 國立清華大學開放式課程OpenCourseWare(NTHU, OCW) - 第31講 Material Analysis
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03-5715131#35401 mengfen@mx.nthu.edu.tw 吳小姐

Title

第31講 Material Analysis

第1節

L31A

第2節

L31B

第3節

L31C

第4節

L31D

Syllabus

章節大綱

 L31A
         Introduction of Material Analysis
         Surface Analysis
         Auger Electron Spectroscopy

L31B
        X-ray Photoelectron spectroscopy (XPS)
        XPS and valence
        Comparison of Surface Analysis
        Scanning Electron Microscope -SEM

L31C
        Transmission electron microscope (TEM)
        Image vs. Diffraction pattern
        Bright field vs. dark field images
        Scanning tunneling microscopy


L31D
        Scanning tunneling microscopy
        Atomic force microscopy

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